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Products曾先生
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導(dǎo)致復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱故障的原因
更新更新時(shí)間：2022-04-15 點(diǎn)擊次數(shù)：820次
減少復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱的故障就要了解這些故障產(chǎn)產(chǎn)生原因；很多電子元件隨著工作時(shí)限延長可能發(fā)生退化性的失效，而鹽霧試驗(yàn)箱的元件退化性失效所包括的范圍較廣，主要有如下幾個(gè)特征：某些參數(shù)隨著工作時(shí)間的延長或工作環(huán)境的變動(dòng)，其參數(shù)發(fā)生漂移，造成時(shí)而工作正常，時(shí)而工作不正常的情況。產(chǎn)生這些故障的原因主要為：
1、由于負(fù)荷超過其內(nèi)部承受能力和使用保養(yǎng)不當(dāng)而產(chǎn)生的結(jié)果。
2、電子元件失效普遍的是存在品質(zhì)與技術(shù)缺陷。
3、環(huán)境因素作用，包括溫度、濕度、電壓及光照等。
以上三種情況是導(dǎo)致復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱產(chǎn)生故障的主要原因，可以說電子元件的好壞直接關(guān)系到儀器設(shè)備的質(zhì)量優(yōu)劣。
